Уникальное оборудование Quantum Focus позволяет проводить анализ функционирования прибора и поиск причин отказов семью различными способами, в т.ч., методом фотоэмиссионной микроскопии, лазерной инжекционной микроскопии, инфракрасной детекционной микроскопии и температурного анализа.

Подобные исследования не имеют аналогов в плане визуализации проблемных зон кристаллов, утечек, ошибок в проектировании слоев кристаллов и теплоотводов. Эти возможности особенно важны на ранних стадиях проектирования конструкции силовых и СВЧ-приборов, лазерных систем, светодиодных матриц.  

Мы предлагаем отечественным разработчикам микросхем и многокристальных модулей проведение разовых или регулярных анализов надежности приборов для определения проблемных зон и оптимизации конструкции.